（ASM-700-可編程調(diào)溫調(diào)濕實(shí)驗(yàn)箱 恒溫恒濕試驗(yàn)箱）

　　可編程調(diào)溫調(diào)濕實(shí)驗(yàn)箱主要通過控制箱內(nèi)加溫，加濕，制冷，除濕幾部分組成，通過循環(huán)風(fēng)道上出風(fēng)下回風(fēng)的循環(huán)方式對(duì)箱內(nèi)空氣流動(dòng)控制，平衡箱內(nèi)溫，濕度。由內(nèi)置溫濕度傳感器采集箱內(nèi)溫濕度數(shù)據(jù)反饋至溫控儀表，溫控儀表根據(jù)所設(shè)定的溫濕度點(diǎn)，下達(dá)需調(diào)溫調(diào)濕指令給中心處理器PLC,開啟相應(yīng)的調(diào)溫調(diào)溫供給系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)箱內(nèi)溫濕度平衡。

　　產(chǎn)品用途:

　　可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱主要用于檢測材料在耐熱、耐寒、耐干、耐濕等環(huán)境下的性能。適合電子、電器、手機(jī)、通訊、儀表、車輛、塑膠制品金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測質(zhì)量之用。

　　滿足標(biāo)準(zhǔn):

　　GB/T5170.5-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境檢驗(yàn)方法濕熱試驗(yàn)

　　GB/T-2006《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》

　　GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分試驗(yàn)方法試驗(yàn)A

　　GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)試驗(yàn)B:高溫基本信息

　　GB-T2423.3-2006電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法

　　GB/T2423.4-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)Db

　　可編程調(diào)溫調(diào)濕實(shí)驗(yàn)箱的技術(shù)參數(shù)：

　　溫度范圍：

　　A表示：0℃～+150℃，B表示：-20℃～+150℃，C表示：-40℃～+150℃，

　　D表示：-60℃～+150℃，E表示：-70℃～+150℃

　　溫度精度：±0.01℃

　　溫度波動(dòng)度：±0.5℃

　　溫度均勻度：±2.0℃

　　濕度范圍：20%RH～98%RH

　　濕度精度：±0.1%R.H

　　濕度波動(dòng)度：±2.0%R.H.

　　濕度均勻度：±3%R.H.

　　升溫速率：平均3℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃升至+85℃約20min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格

　　降溫速度：平均1℃/min（非線性、空載時(shí)；從常溫+25℃降至-40℃約65min）；可按要求定制非標(biāo)規(guī)格